Produkt

China Multi-Spot Beam Profiler Hersteller FSA500

Ein Messanalysator zur Analyse und Messung optischer Parameter von Strahlen und fokussierten Punkten. Er besteht aus einer optischen Zieleinheit, einer optischen Dämpfungseinheit, einer Wärmebehandlungseinheit und einer optischen Abbildungseinheit. Er verfügt außerdem über Software-Analysefunktionen und erstellt Testberichte.


  • Modell:FSA500
  • Wellenlänge:300-1100 nm
  • Leistung:Max. 500 W
  • Markenname:CARMAN HAAS
  • Produktdetail

    Produkt Tags

    Gerätebeschreibung:

    Ein Messanalysator zur Analyse und Messung optischer Parameter von Strahlen und fokussierten Punkten. Er besteht aus einer optischen Zieleinheit, einer optischen Dämpfungseinheit, einer Wärmebehandlungseinheit und einer optischen Abbildungseinheit. Er verfügt außerdem über Software-Analysefunktionen und erstellt Testberichte.

    Gerätefunktionen:

    (1) Dynamische Analyse verschiedener Indikatoren (Energieverteilung, Spitzenleistung, Elliptizität, M2, Punktgröße) innerhalb des Tiefenschärfebereichs;

    (2) Breiter Wellenlängenbereich von UV bis IR (190 nm – 1550 nm);

    (3) Multi-Spot, quantitativ, einfach zu bedienen;

    (4) Hohe Schadensschwelle bis 500 W Durchschnittsleistung;

    (5) Ultrahohe Auflösung bis zu 2,2 µm.

    Instrumentenanwendung:

    Zur Messung von Einzel- oder Mehrstrahl- und Strahlfokussierungsparametern.

    Gerätespezifikation:

    Modell

    FSA500

    Wellenlänge (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Durchmesser der Eintrittspupille (mm)

    ≤17

    Durchschnittliche Leistung(F)

    1-500

    Lichtempfindliche Größe (mm)

    5,7 x 4,3

    Messbarer Punktdurchmesser (mm)

    0,02-4,3

    Bildrate (fps)

    14

    Anschluss

    USB 3.0

    Instrumentenanwendung:

    Der Wellenlängenbereich des prüfbaren Strahls beträgt 300–1100 nm, der durchschnittliche Strahlleistungsbereich beträgt 1–500 W und der Durchmesser des zu messenden Fokuspunkts reicht von mindestens 20 μm bis 4,3 mm.

    Während der Verwendung bewegt der Benutzer das Modul oder die Lichtquelle, um die beste Testposition zu finden, und verwendet dann die integrierte Software des Systems zur Datenmessung und -analyse.Die Software kann das zwei- oder dreidimensionale Intensitätsverteilungs-Anpassungsdiagramm des Querschnitts des Lichtpunkts anzeigen und kann auch quantitative Daten wie Größe, Elliptizität, relative Position und Intensität des Lichtpunkts in zweidimensionaler Richtung anzeigen. Gleichzeitig kann der Strahl M2 manuell gemessen werden.

    y

    Strukturgröße

    J

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