Produkt

China Multi-Spot Beam Profiler Hersteller FSA500

Ein Messanalysator zum Analysieren und Messen optischer Parameter von Strahlen und fokussierten Punkten. Es besteht aus einer optischen Zeigereinheit, einer optischen Dämpfungseinheit, einer Wärmebehandlungseinheit und einer optischen Abbildungseinheit. Es ist außerdem mit Software-Analysefunktionen ausgestattet und stellt Testberichte bereit.


  • Modell:FSA500
  • Wellenlänge:300–1100 nm
  • Leistung:Maximal 500 W
  • Markenname:CARMAN HAAS
  • Produktdetails

    Produkt-Tags

    Gerätebeschreibung:

    Ein Messanalysator zum Analysieren und Messen optischer Parameter von Strahlen und fokussierten Punkten. Es besteht aus einer optischen Zeigereinheit, einer optischen Dämpfungseinheit, einer Wärmebehandlungseinheit und einer optischen Abbildungseinheit. Es ist außerdem mit Software-Analysefunktionen ausgestattet und stellt Testberichte bereit.

    Gerätemerkmale:

    (1) Dynamische Analyse verschiedener Indikatoren (Energieverteilung, Spitzenleistung, Elliptizität, M2, Spotgröße) innerhalb des Tiefenschärfebereichs;

    (2) Großer Wellenlängen-Reaktionsbereich von UV bis IR (190 nm–1550 nm);

    (3) Multi-Spot, quantitativ, einfach zu bedienen;

    (4) Hohe Schadensschwelle bei durchschnittlicher Leistung von 500 W;

    (5) Ultrahohe Auflösung bis zu 2,2 µm.

    Instrumentenanwendung:

    Zur Einzelstrahl- oder Mehrstrahl- und Strahlfokussierungsparametermessung.

    Gerätespezifikation:

    Modell

    FSA500

    Wellenlänge (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Durchmesser des Eintrittspupille-Positionsflecks (mm)

    ≤17

    Durchschnittliche Leistung(W)

    1-500

    Lichtempfindliche Größe (mm)

    5,7x4,3

    Messbarer Punktdurchmesser (mm)

    0,02-4,3

    Bildrate (fps)

    14

    Stecker

    USB 3.0

    Instrumentenanwendung:

    Der Wellenlängenbereich des testbaren Strahls beträgt 300–1100 nm, der durchschnittliche Strahlleistungsbereich beträgt 1–500 W und der Durchmesser des zu messenden fokussierten Flecks liegt zwischen mindestens 20 μm und 4,3 mm.

    Während des Gebrauchs bewegt der Benutzer das Modul oder die Lichtquelle, um die beste Testposition zu finden, und nutzt dann die integrierte Software des Systems zur Datenmessung und -analyse.Die Software kann das zweidimensionale oder dreidimensionale Intensitätsverteilungsanpassungsdiagramm des Querschnitts des Lichtflecks anzeigen und kann auch quantitative Daten wie Größe, Elliptizität, relative Position und Intensität des Lichtflecks in den beiden anzeigen -dimensionale Richtung. Gleichzeitig kann der Strahl M2 manuell gemessen werden.

    j

    Strukturgröße

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